Eike Trumann hat auf der EuroSimE 2026 in Warschau seine aktuelle Forschung zu Strahlungseffekten in SRAM-basierten FPGAs vorgestellt. Im Fokus der Arbeit standen Single Event Transients (SET), die für den zuverlässigen Einsatz von FPGAs in strahlungsbelasteten Umgebungen von Bedeutung sind.

Aufbauend auf früheren Untersuchungen zu Single Event Upsets (SEU) wurden mehrere Artix-7-35T-FPGAs parallel mit 2,45 MeV Neutronen bestrahlt. Zur Erfassung der SETs kamen zwei speziell entwickelte Detektionsschaltungen zum Einsatz. Die Auswertung erfolgte über den Readback-Mechanismus der Bausteine, sodass keine zusätzliche externe Detektionshardware erforderlich war.

Die Ergebnisse liefern eine Grundlage für Fehlermodelle von SETs und unterstützen damit die Bewertung von Schutzmaßnahmen sowie die Abschätzung von Fehlerwahrscheinlichkeiten in implementierten Schaltungen. Gleichzeitig zeigt die Arbeit, dass SETs im Vergleich zu SEUs in der untersuchten 28-nm-Technologie unter Neutronenbestrahlung nur eine untergeordnete Rolle spielen.