Elektronenmikroskopie

Das Institut für Werkstoffe verfügt über drei leistungsstarke Elektronenmikroskope: Ein Zeiss LEO 1550 und ein FEI Helios NanoLab 650.

Die Mikroskope sind mit folgenden Funktionen ausgestattet:

  • Sekundär- und Rückstreuelektronendetektoren
  • Scanning Transmissionselektronenmikroskopie (STEM) Detektor
  • Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
  • Wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie (WDX)
  • Elektronenrückstreubeugung (EBSD)
  • Focused Ion Beam (FIB) zur Oberflächenanalyse und -bearbeitung
  • Mikromanipulatoren

Kontakt:

TEM-Aufnahme von Kupfer
Versetzungslinien in Kupfer, Transmissionselektronenmikroskopische Aufnahme
Cu-Zr2 nach SLM
Rasterelektronenmikroskopische Aufnahme der Mikrostruktur einer Kupferlegierung mit zwei Gewichtsprozent Zirkon nach dem selektiven Laserschmelzen: Feinverteilte Zirkonausscheidungen.