Vom 01.10.25 bis zum 03.10.25 fand in Utrecht (Niederlande) die MS+M 2025 Konferenz statt. Das IAP nahm mit zwei Postern von Niclas Przibylla „New Electrospray Ion Beam Deposition source for well-controlled STM sample preparation“ und Tim Seifert „Using Machine Learning to predict molecular conformations from STM images“ teil.
